恒溫恒濕試驗箱標(biāo)準介紹

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗C：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗D：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

恒溫恒濕試驗箱標(biāo)準介紹
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法

GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法

GJB150.9-1986《junyong設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》

GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》

GJB367.2-1987《junyong通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗

GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗

GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》
GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》

GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》